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上海倍藍(lán)光電科技有限公司

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粒子物性評(píng)價(jià)系統(tǒng)

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ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)系統(tǒng)ELSZ-2000系列參考價(jià)：面議
zeta電位分析儀，ZETA電位·粒徑·分子量測(cè)系統(tǒng)ELSZ-2000系列可測(cè)量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。粒徑...
型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市對(duì)比

zeta電位分析儀

2025/4/15 10:04:451931
多檢體納米粒徑量測(cè)系統(tǒng)nanoSAQLA 參考價(jià)：面議
多檢體納米粒徑量測(cè)系統(tǒng)nanoSAQLA利用動(dòng)態(tài)光散射法(DLS法)的粒徑測(cè)量（粒徑0.6nm～10μm）儀器。可對(duì)應(yīng)檢體范圍廣，低濃度～高濃度類(lèi)，新光學(xué)系，輕...
型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市對(duì)比

粒徑測(cè)量多檢體納米粒徑量測(cè)系

2025/4/15 10:02:381139
顯微分光膜厚儀（OPTM系列）參考價(jià)：面議
顯微分光膜厚儀（OPTM系列）使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過(guò)反射率進(jìn)行測(cè)量，可進(jìn)行高精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。通過(guò)非破壞性和非接觸方式測(cè)量涂膜的厚度，例如各種膜...
型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：對(duì)比

2025/4/15 10:00:231119

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